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数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计(影印版)

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  • 日期: 2014-03-05
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标签: 数字数字集成电路集成电路电路嵌入式

·书中包括的索引使你能够根据自己的需要,直接阅读你所关注的内容。主要内容包括:设计核心,关注嵌入核心和嵌入存储器;系统集成和超大规模集成电路的设计问题;AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计;内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST;虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计,包括重用和隔离测试;用VSIA和IEEE P1500标准处理测试问题。 书中穿插的整幅图解直接来自作者的教学材

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