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CMOS集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

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  • 日期: 2013-09-21
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标签: CMOS集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

CMOS集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1.掌握CMOS集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则;2.学会CMOS与非门主要参数的测试方法。二、预习要求1.复习CMOS门电路的工作原理;2.了解四2输入与非门CD4011,四2输入或门CD4071,四2输入与门CD4082及四异或门CD4030等门电路的引脚功能;3.各种CMOS门电路闲置输入端应如何处理?三、 实验原理1. CMOS为英文Complementary Metal Oxide Semiconductor的简称,译为互补--金属—氧化物—半导体存储器。CMOS集成电路是将N沟道MOS晶体管和P沟道MOS晶体管同时用于一个集成电路中,成为组合二种沟道MOS管性能的更优良的集成电路。2.CMOS集成电路的主要优点:(1)电源电压范围广,可在+3V~+18V范围内正常运行;(2)功耗低。相比之下,TTL器件的功耗则大得多;(3)输入阻抗高,通常大于1010Ω,远高于TTL器件;(4)接近理想的传输特性,输出高电平可达电源电压的99.9%以上,低电平可达电源电压的0.1%以下;(5)扇出系数非常大,负载能力强。3.CMOS与非门的主要参数CMOS与非门主要参数的定义及测试方法与TTL与非门电路相仿,参见实验二。四、实验仪器与器件1. TH-SZ型数字电路实验箱          2. UT56数字万用表 3. 四2输入与非门CD4011、 四异或门CD4030各一片五、 实验内容和步骤1. 验证四2输入与非门CD4011和四异或门CD4030的逻辑功能,判断其好坏。(可以取器件中的一个门进行实验)。图3-1分别为两者的引脚排列图:

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