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嵌入式存储器的测试标准

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标签: 嵌入式存储器的测试标

              嵌入式存储器的测试标准嵌入式存储器的测试标准技术编者按: 随着 SoC 设计向存储器比例大于逻辑部分比例的 方向发展,高质量的存储器测试策略显得尤为重要。存储 器内置自测试(BIST)技术以合理的面积开销来对单个嵌入 式存储器进行彻底的测试, 可提高 DPM、 产品质量及良品 率,因而正成为测试嵌入式存储器的标准技术。半导体行业向纳米技术的转移已经引起人们对制造测试工艺的重新思考。 由于早先的良 品率要大大低于采用更大规模工艺技术所获得的良品率, 并且新缺陷类型正在不断出现, 故 半导体制造测试将在保证产品质量方面扮演着更加重要的角色。 在传统上, 测试技术主要集 中在设计的逻辑部分上,但统计资料显示:今天的设计已经普遍含有 50%的嵌入式存储器, 且这部分的比例预计在未来几年中还会加大。 很明显, 为实现全面的系统级芯片(SoC)测试, 必须制定一种高质量的存储器测试策略。 存储器紧凑的结构特征使其更容易受到各类缺陷的影响。 存储器阵列工作模式本质上主要是 模拟的, 来自存储器件的弱信号被放大到适当的驱动强度, 且存储器单元的信号传输只涉及 到很少的电荷。所有这些设计特点都使存储器阵列更容易受到错综复杂的制造缺陷的影响。 而紧密的存储器阵列封装造成了这样一种情况, 即相邻单元的状态在存在缺陷的情况下可能 会发生误操作,因此某些缺陷可能只在特定的数据模式下才会暴露。此外,这些缺陷类型很 多是具有时间相关性的,因此只有在正常工作频率下才会被发现。 存储器内置自测试(BIST)是 SoC 设计中用来测试嵌入式存储器的标准技术,它以合理的面 积开销来对单个嵌入式存储器进行彻底的测试。最常见的存储器 BIST 类型包括可完成三项 基本操作的有限状态机(FSM):将测试模版(pattern)写入存储器、读回这些模版并将其与预 期的结果进行比较。为对嵌入式存储器进行存取,存储器 BIST 一般将测试多……             

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