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大数据与云计算高速数字总线技术发展趋势

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标    签:大数据云计算数字总线

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议程

• 高速数字总线技术市场发展

• 高速数字总线技术测试挑战

• 泰克最新测试技术介绍

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大数据与云存储环境下的 高速总线技术演进 议程 • 高速数字总线技术市场发展 • 高速数字总线技术测试挑战 • 泰克最新测试技术介绍 23 MARCH 2017 2 大数据与云存储市场发展 3 Data Center Overview BIG DATA, IOT, AND ANALYTICS DRIVING NEEDS FOR COMPUTE POWER  STORAGE CAPACITY  NETWORK BANDWIDTH Technology Trends • Growth in cloud computing and video internet ◦ Rollout of 5G access and coherent are driving bandwidth bottlenecks in the Datacenter. Storage • Cloud Service Providers (Google, Amazon, Facebook) seeking differentiation Router Central City Office ◦ Bypassing traditional OEMs with their own HW Servers or going directly to ODMs Enterprise • Bandwidth bottlenecks ◦ Leading to technology inflection points in 400G and 4th Gen Serial, driving new Tx/Rx needs and workflow changes. Datacenter • Convergence of Datacom & Enterprise Standards Driving new Debug Challenges ◦ The same designs will include both: ▪ 100/400G Ethernet ▪ PCIe, SAS, DDR5 4 Key Technology Drivers CLOUD SERVICES DRIVING CONVERGENCE OF 100/400G ETHERNET AND 4TH GENERATION SERIAL Networking 100G/400G PAM4 Optical 100G/400G PAM4 Electrical 400G/600G QAM Optical Servers PCI Express 4 SAS 4 100G Backplane – KR4 DDR5 Storage PCI Express 4 – NVMe SAS 4 SATA FibreChannel DDR5 5 高速数字总线技术测试挑战 高速信号的速率越来越高 • USB 2.0, 480 Mb/s (2000) ◦ Shift from slower, wide, parallel buses to narrow, high speed serial bus ◦ 40x faster data rate, support for new connectors & charging • USB 3.0, 5 Gb/s (2008) ◦ ~10x faster data rate over 3 meter cable ◦ Faster edges, ‘closed eye’ architecture • USB 3.1, 5/10 Gb/s (2013) ◦ 2x faster data rate over 1 meter cable ◦ ‘Scaled’ SuperSpeed implementation Server/Storage Segment Trends Gen 4 Standards have increased loss (~28dB), require repeater/retimers Debug is becoming increasingly important for both PHY and protocol testing PCI Express beginning to dominate I/O plus storage SSD DUT market FEC implemented in SAS4 standard Fast automation is key—22 total presets required for PCIE Gen3 and 4 8 物理层验证过程 TP0 – Near End Measurements are specified at TP1 TP1 – Far end 高速链路越来越复杂 Tx Channel Rx 23 MARCH 2017 10 高速串行链路剖析 ANATOMY OF A HIGH SPEED SERIAL LINK Deserializer Serializer Tx Equalization Channel Rx Equalization Tx Clk (PLL) Rx Clk Recovery (PLL/Fwd Clk) 23 MARCH 2017 11 信道对眼图的影响  Example of eye closure on a 12Gb/s PRBS7 SAS Signal due to channel effects – 40 Inch ISI Trace was embedded with 17db of loss at 6GHz Insertion loss of the channel Eye before and after the channel SERIAL DATA LINK ANALYSIS 3/23/201172 高速串行链路可能的探测 ANATOMY OF A HIGH SPEED SERIAL LINK Deserializer Serializer Tx Equalization Channel Rx Equalization Tx Clk (PLL) Rx Clk Recovery (PLL/Fwd Clk) 23 MARCH 2017 13 打开关闭的眼图 APPLY RECEIVER EQUALIZATION • The example below shows a PCI Express 3.0 signal at the far end (input to the receiver) ◦ The eye at Rx is closed ◦ Clock recovery would have failed due to the channel loss ◦ After applying DFE equalization the signal can be measured with DPOJET 3/23/2017 SERIAL DATA LINK ANALYSIS 14 信号的接入越来越困难 探头空间小,反射影响大 • Different methods of embedding resistors ◦ Example: Resistive PCB layer • DDR4: 3200/1600 Clk • LPDDR4: 4267/2133 Clk • DDR5: Basically twice the speed of DDR4 15 泰克最新测试技术介绍 ATI性能示波器 • 70GHz模拟带宽,4.3ps上升时间 (20%-80%) • 200GS/s采样率 • <125fs抖动噪声本底 • ≥25GHz边沿触发带宽 • 紧凑的5 ¼”传统示波器外型  低噪声ATI结构  同类最优秀的信号捕获技术  紧凑的外型,精密多机同步  1条通道 x 70GHz带宽  单端, 100mVfsr ~ 300mVfsr  200GS/s采样率  高达1 G样点记录长度 17 [ OR ]  2条通道 x 33GHz带宽  单端, 62.5mVfsr ~ 6Vfsr  100GS/s采样率/通道  高达1 G样点记录/通道 仪器尺寸比较–与传统型号相比,外型紧凑 • 高效的机架空间,提高通道数量 • 位置灵活 ◦ 靠近DUT,缩短电缆,保持信号保真度 ◦ 灵活监视器/鼠标位置,操作方便 12” 18 SDLA Visualizer 专业的链路分析工具 LINK ANALYSIS SOLUTION FOR REAL TIME SCOPES • 一次探测,可以观测到链路上任意测试点的波形 • 去除任何探测的电缆、夹具、探头获得更精确的测试测量结果 • 应用接收机均衡技术打开闭合的眼图 • 测试结果任意输出 3/23/2017 19 SDLA Visualizer 专业的链路分析 CHANNEL DEFINITION • 消除测量电路的影响 ◦ 消除探头、电缆、夹具的影响 ◦ 消除信道中任何部分的影响,使得虚拟探测成为可能 ◦ 通过发射机测的测试即可观测链路中任何位置的信号 ◦ 探测任何可能的位置, 即可观察任何想看的信号 • 引入信道,模拟信道特性 ◦ 嵌入任意用户定义的信道,模拟链路中任何点的信号 ◦ 测试真实信道损失并进行分析 ◦ 很多标准的一致性测试要求使用参考信道,SDLA支持嵌入任意一致性测试要求 的参考信道 3/23/2017 20 Receiver (Rx) Overview Equalizatio n • Compensate channel distortion • Restore transmitted signals Clock and Data Recovery (CDR) • Recover underlying clock • Recover transmitted bit streams 解决探测的难题! P7700 High Bandwidth TriMode™ Probe • NEW! Active input directly at the probe tip • NEW! TekFlex™ accessories ◦ Improved access to tight test locations • Best-in-Class low loading for LPDDR and MIPI standards • Industry’s lowest cost per connection 22 创新的探头前端附件 • TekFlex™ Connector and Accessories 23 有源附件, 紧靠探测点的缓冲放大器 • Flex circuit material • Designed for reuse and low cost TEKTRONIX CONFIDENTIAL 24 TekFlex™ 手持探测附件 • Features ◦ Ergonomic design ◦ Full range of compliance on tips (0.02”, 0.5 mm) ◦ Adjustable tip spacing from .008-.210” (0.2-5.3 mm) ◦ Headlight ◦ Replaceable tips ◦ Crown points • 应用场景 ◦ 调试 ◦ 快速测量 ◦ 电源及低频信号 TEKTRONIX CONFIDENTIAL 25 P7700 TriMode™ 三模探头 主要特征 • 高阻抗 • 低噪声 • 点测附件 • 全带宽 温度 -40° to +85°C • 探头甚至附件具备完整的S参数特性 26 泰克高速串行解决方案 27 高速串行HSS系统 Tx Examples: • Optical Transceivers (SFP, XFP etc.) • SERDES chips • Satellite uplink • Backplane drivers Channel Examples: • Optical Fibre with amplifiers • High Speed Backplanes • Circuit Boards • Coax cables Rx Examples: • Optical Transceivers • SERDES chips • SERDES 28 高速串行HSS测试系统 设计 检验 一致性测试 S系y统ste集m成Integration D数ig字ita验l 证Va和lid调at试ion & Debug D数a据ta链Li路nk分 A析nalysis D数ig字ita验l 证va和lid调ati试on & Debug S仿im真ulationS信ig号na完l 整Int性egrity E眼y图e a和n抖d J动itt分er析Analysis C检h定ar和ac验te证rization & Validation R接e收ce机iv测er 试 T直接e合s成t Direct Synthesis C一o致m性pli测an试ce Testing S串e行ria数l D据a网ta络Ne和tw链o路rk 分& 析Link Analysis T事ra务n层saction Layer D数a据ta链L路ink层 Layer L逻o辑gical S子u块b-block E电le气ctrical S子u块b-block Physical Layer 物 理 层 Tx + + -- 路径 ++ Rx -- 完善的泰克串行数据测试解决方案 Rx容限测试 数字验证和调试 协议测试 Tx 信号质量, 参考时钟和一致 性测试 Intel最佳测 试平台TLA逻 发射机 / 接收机 辑协议分析仪 链路 BERTSCope 最高32Gbps误码测试能力 具有丰富系统调试功能 发射机 / 接收机 HOST Device 口 口 端 端 Lane DPO/MSO70000C 4Ch实时示波器 70GHz带宽 200GS/s采样率 DPOJET平台化 测试软件 Jan 2011 RefClk 信号互连测试 DSA8300 采样示波器 TDR模块 S参数测量 模型提取建 模 Tektronix最新测试测量解决方案构架 PLL环路带宽 实时频谱分析仪 发送端测试 Tx Examples: • Optical Transceivers (SFP, XFP etc.) • SERDES chips • Satellite uplink • Backplane drivers Channel Examples: • Optical Fibre with amplifiers • High Speed Backplanes • Circuit Boards • Coax cables Rx Examples: • Optical Transceivers • SERDES chips • SERDES DPOJET®:一种全新的、易用的、快速的、 完整和准确的抖动测试工具 DPOJET : Jitter + Eye Diagram + Tools DPOJET业内使用最简单的抖动测试工具 • “ONE Touch”一键式的软件设计思路,任何抖动测 量,无需复杂的设定,一键完成测试 ◦ 自动选择示波器输入通道 ◦ 自动判断测试信号类型(clock或data) ◦ 最优化完成示波器采集参数 ◦ 自动测试参考电平 ◦ 自动选择抖动项目(用户可定制) ◦ 自动完成测量项目参数设定 ◦ 自动完成结果分析、图表生成 • “ONE Touch”一键式功能使得工程师摆脱枯燥的、繁 琐、易错的参数设置环节,直接将测试结果呈现在工 程师面前! 2017/3/2 3 如何利用DPOJET对抖动进行分析 • 抖动时间趋势图 ◦ 反映抖动随时间的变化趋势 ◦ 应用:测量SSC廓线等 • 抖动直方图 ◦ 反映抖动分布,极限取近于抖动的概率密 度函数 ◦ 直观的反映出系统中Rj,Dj • 抖动频谱图 ◦ 反映抖动中周期性抖动Pj的信息 ◦ 几乎所有的串行数据中都有时钟耦合噪声 的周期性抖动 104.587ps@435KHz “双峰图样”说明系统中有 明显的周期性抖动 342017/3/23 如何利用DPOJET对抖动进行分析-续 • Rj ◦ 热噪声引起;无法从根本上消除 ◦ 选择高性能器件,减小器件数量 PJ ISI+DCD RJ • Pj ◦ 外界固定干扰源干扰:时钟,SSN ◦ 采用SSC、隔离时钟 • ISI ◦ 链路带宽不够,导致高频码型幅度衰减严重 ◦ 和数据码型相关 ◦ 增加链路带宽;采用预加重/均衡技术 • DCD ◦ 时钟上升沿和下降沿不对称;接收端门限设置 有误 ◦ 时钟驱动不对称、Tx端驱动带宽受限等 Total Jitter (TJ) Random Jitter (RJ) Deterministic Jitter (DJ) Dj包含Pj、ISI和DCD Periodic Jitter (PJ) Data Dependent Jitter Duty-Cycle Jitter (DDJ) (DCD) 2017/3/2 3 DPOJET测试举例-眼图测试 • 眼图测试是串行数据最基础、最直接的测试 ◦ 反映了串行信号完整性 ◦ 直观的判断串行信号是否满足标准 ◦ 抖动是眼图测试中最重要的一项 • 眼图测试的核心-时钟恢复 ◦ 时钟恢复方法的多样性决定了能够涵盖多 少眼图测试标准 ◦ 标准的时钟恢复方法:Golden PLL ◦ 用户可自定义的CDR参数 ◦ TypeI/II;damp factor;Bandwidth ◦ 使用外部时钟:DDR2/3测试 DisplayPort Tx端@2.7Gbps,800mv,PRBS码型眼图测试 • Pass/Fail测试 ◦ DPOJET提供了标准的模板 ◦ 用户可自定义模板类型 362017/3/23 Eye Locator锁定发生问题的bit 接收端容限测试 Tx Channel Examples: • Optical Transceivers (SFP, XFP etc.) • SERDES chips • Satellite uplink • Backplane drivers Examples: • Optical Fibre with amplifiers • High Speed Backplanes • Circuit Boards • Coax cables Rx Examples: • Optical Transceivers • SERDES chips • SERDES BERTScope 针对计算机系统和通信串行数据的应用而设计,同时集成误码仪和 示波器的仪器(运行Windows操作系统)。 Pattern Generator产生特定的比 1 特码流,例如. PRBS 码型;信 号可以被施加压力 从带压力的 Pattern Generator输出 loopback 到 Error Detector 被测芯片/被测系统 有源/无源 2 比特码流从DUT输出到Error Detector比较以进行BER测量 3 也能像示波器 一样进行分析 各种高速串行总线对Rx接收端测试的要求  无论是针对设计还是生 产制造,规范都定义了 明确的Rx端测试需求  所有标准都要求进行 Jitter Tolerance 一致性 测试  被测设备类型: – SerDes – Transceivers – Multi Media Sink devices – Rx devices Standard Data Rate Jitter Tolerance Timing Skew Amplitude Sensitivity Emphasis SATA Gen 3 6 Gb/s - - PCI Express 2.0 5 Gb/s PCI Express 3.0 8 Gb/s HDMI 1.4 0.75 Gb/s to 3.4 Gb/s - FC 4, 8 G 4.25 Gb/s to 8.5 Gb/s DisplayPort 2.7 Gb/s 5.4Gb/s USB 3.0 5 Gb/s - 39 各种高速串行总线对Rx接收端测试的要求 1.设置DUT进入Loopback模式(Analog/Re-timing) 2.产生规范要求的抖动分量,在不同的频点上分别产生相应的抖动量 3.将stressed信号注入DUT Rx 4.统计DUT Tx端发出的信号的误码率是否达到要求 2 1 3 4 40 BERTScope产生各种压力类型  Sine jitter – 1KHz~100MHz – max.1100ps  Random jitter – f>1GHz  Bounded PRBS jitter  SSC – 12,500ppm  Sine Interference 41 动态改变速率、压力、码型等 1 6 Gb/s PRBS-7  DJ:  SJ: RJ:  SI:  2 6 Gb/s PRBS-7  DJ:  SJ: RJ:  SI:  3 6 Gb/s PRBS-7  DJ:  SJ: RJ:  SI:  42 自动化Jitter Tolerance一致性测试方案 PCIE GEN1,2,3 SATA I,II,III USB3 Display Port XFP/XFI 10GBase-KR Optical Serial Bus... Test for compliance Use Search mode to find device limits 43 高速总线的一致性测试 Tx Channel Examples: • Optical Transceivers (SFP, XFP etc.) • SERDES chips • Satellite uplink • Backplane drivers Examples: • Optical Fibre with amplifiers • High Speed Backplanes • Circuit Boards • Coax cables Rx Examples: • Optical Transceivers • SERDES chips • SERDES 计算机高速串行信号的测试需求以及解决方案 Standard Ethernet USB DDRII 1394B DVI HDMI Data rate(bps) 5th harmonic(Hz) 250M 480M 533/667/800M 983.0M/1.966 G 1.65G 1.65G/3.4G 业界推荐Scope带 宽 1GHz 2.5GHz 8GHz 4GHz 4GHz 4GHz/8G Compliance test方 案 TDSET3 TDSUSBF TDSJA 3/DDR QP TDSDVI TDSHT3 Fiber channel Display port PCI express InfiniBand SATA II SATA II SAS 300 Fiber Channel 4X FBD I PCIE 2.0 SATA/SAS III CSI CSI (II) 2.125G 2.7G 2.5G 2.5G 3G 3G 3G 4.25G 4.8G 5G 6G 6.4G 8G 7.5G 7.5G 7.5G 10G 12G 12.5G 15G 16G 20G 4GHz 8GHz 6GHz 6GHz 10GHz 10GHz 10GHz 10GHz 12GHz 12GHz 15GHz 16GHz 20GHz SM,RTE Display port PCE(RTE) RTE SST(RTE) SST(RTE) SST(RTE) SM,RTE FBD(RTE) PCE(RTE) PCE(RTE) RTE RTE DDR物理层测试  DDR测试难点 – 测试点难于接触 – 读写分离 – 标准多,涉及面广  泰克DDR测试方案 – 和第三方合作,推出众多高质量测试夹具 – 三模探头和附件,方便接入测试点 – DDRA软件,一个软件覆盖所有目前的DDR标准,包括 DDR1/DDR2/DDR3/DDR4/ LPDDR1/ LPDDR2/ LPDDR3/DDR3L/GDDR3/GDDR5 – 结合混合信号探测、相位分析、可视触发的多层面读写分离技术,是目前 最完备的方案 – 唯一能捕获连续突发读写的方案 – 业界唯一支持离线测试的软件 – 基于逻辑分析仪的DDR协议分析 Oscilloscope Bandwidth Requirement Memory Technology DDR DDR2 DDR2 DDR3 Speed all rates to to to 400MT/s 800MT/s 1600MT/s Max slew rate 5 5 5 10 Typical V swing 1.8 1.25 1.25 1 20-80 risetime (ps) 216 150 150 60 Equivalent Edge BW 1.9 2.7 2.7 6.7 Recommended Scope  2.5 3.5 4.0 12.5 Highest Accuracy on Faster Slew rates BW  Slew Rates are about 80% of the Max Spec (Max Performance)  DDR3L, DDR4 and LPDDR3 is supported Recommended Scope 2.5 2.5 3.5 8.0 BW (Typ Performance) DDR3 to 2400MT/s 12 1 50 8.0 12.5 12.5 DDR3L to 1600MT/s 12 0.9 45 8.9 12.5 12.5 LPDDR3 to 1600MT/s 8 0.6 45 8.9 12.5 12.5 DDR4 to 3200MT/s 18 0.8 27 15.0 16 12.5 全新的DDR自动测试软件-DDRA PANEL #1 选择DDR 类型 PANEL #2 选择DDR速度 2017/3/23 选择测试的项目 (Read / Write / Clock) 全新的DDR自动测试软件-DDRA 2017/3/23 Reports  Analysis results are compiled into an HTML report enabling easy report management and distribution.  Report includes – Measurement results – Pass/Fail test results based on specification values – Summary and detail plots – Oscilloscope screenshots – Measurement and Instrument configuration summary  Report contents are user definable content  Provision to append more results later 50 泰克DDR及LPDDR4解决方案 • 物理层测试 ◦ DPO/MSO实时示波器 ◦ DPOJET抖动与眼图分析软件 ◦ SDLA64串行链路分析软件 ◦ DDRA/DDR-LP4一致性测试软件 ◦ P75/P73系列探头 ◦ DDR/LPDDR测试夹具(可选) ◦ 视觉触发选件VET(可选) ◦ 特点: ▪ 支持多种DDR协议 ▪ 丰富的读写分离方式 ▪ 性能强大的三模探测能力 ▪ 内嵌的夹具去嵌能力,信号更精确 • 逻辑验证和协议分析 ◦ TLA7k系列逻辑分析仪 ◦ DDR探头 • DDR协议违规和测试 ◦ MCA系列DDR协议分析仪 泰克完善的PCIe 3.0测试解决方案 • 涵盖了从物理层到协议层的测 试 • 发射机调试及测试 ◦ 实时示波器DPO70k系列 ◦ 一致性测试及解码软件 ◦ 丰富的调试分析工具 DPOJET及SDLA64 发射机测 试 接收机测 试 协议测试 • 接收机调试及测试 ◦ 误码仪BSA系列 ◦ 数字预加重模块及时钟恢复 模块 ◦ 一致性测试软件 ◦ 功能强大的误码率定位及分 析工具包 • 协议层分析与测试 ◦ TLA7k系列逻辑分析仪 ◦ 分析探头及软件套件 器件级测试 系统级调试 软硬件集成、联调 设备定量分析检定 一致性测试 USB 物理层发送端电气特性测试  USB 2.0 – TDSUSB2 一致性测试软件 – TDSUSB2测试夹具  USB 3.0/3.1 – TekExpress USB3.0 自动测试软件 – 结合协议触发和解码(PTD)软件,实现高达 6.25内建USB3.0 规范定义的CTLE 滤波器,并 且用户可通过SDLA 选件(Opt.SLA)自定义该滤 波器参数Gb/s速率的协议错误和信号异常触发 泰克USB3.0/3.1测试解决方案 • 涵盖了从物理层到协议层的测试 • 发射机调试及测试 ◦ 实时示波器DPO70k系列 ◦ 一致性测试及解码软件 ◦ Type C及传统USB测试夹具 ◦ 丰富的调试分析工具DPOJET 及SDLA64 发射机测试 接收机测试 USB PD测试 • 接收机调试及测试 ◦ 误码仪BSX系列 ◦ 数字预加重模块及时钟恢复模 块 ◦ 一致性测试软件 ◦ 功能强大的误码率定位及分析 工具包 • USB PD分析与测试 ◦ DPO5k系列实时示波器 ◦ 分析探头及软件套件 ◦ USB-PD控制器及协议发生器 器件级测试 系统级调试 软硬件集成、联调 设备定量分析检定 一致性测试 以太网一致性测试  TDSET3 – 对10/100/1000Base-T 执行广泛的测试,全面验证标准 – 对85, 100, 115Ω(对10Base-T 为111Ω)阻抗执行回波损耗测试,全 面验证系统及提高资源利用率 – 自动测试合格/ 不合格通知,提供快速结果 – 测试夹具 泰克SAS解决方案 • 发射机一致性测试 ◦ DPO/MSO70k 实时示波器 ◦ 一致性测试软件SAS-TSG 以及SAS-TSGW ◦ 一致性测试夹具 • 接收机一致性测试 ◦ BSA系列误码率分析仪 ◦ DPP数字预加重 ◦ CR时钟恢复 ◦ SAS一致性测试软件 ◦ BSAISI硬件信道板级响应附件 • 线缆/背板阻抗测试 ◦ DSA8300采样示波器 ◦ TDR模块 ◦ Iconnect软件 发射机测试 接收机测试 线缆/背板 阻抗测试 器件级测试 系统级调试 软硬件集成、联调 设备定量分析检定 一致性测试 Rapid IO 测试 • 眼图测试是串行数据最基础、最直接的测试 ◦ 反映了串行信号完整性 ◦ 直观的判断串行信号是否满足标准 ◦ 抖动是眼图测试中最重要的一项 • Pass/Fail测试 ◦ DPOJET提供了标准的模板 ◦ 用户可自定义模板类型 572017/3/23 泰克HDMI1.4/2.0 测试解决方案 • 源端一致性测试 ◦ DPO/MSO实时示波器 ◦ 一致性测试软件 ◦ P7313SMA探头 ◦ 一致性测试夹具 • 接收端一致性测试 ◦ AWG70k任意信号发生器 ◦ 一致性测试夹具 • 电缆测试 ◦ 取样示波器DSA8300 ◦ TDR模块 ◦ Iconnect软件 电气一致性 TekExpress Tx HDM (2.0) 实时/取样示 波器 TDS-HT3 (1.4) HDMI 1.4b (up to 3.4 Gbps) Tx Pattern Generation Rx TekExpress HDM-DS (2.0) HDMI 2.0 (up tHoD6MGIbps) 任意信号发 生器 协议解码 HDMI 2.0 Protocol decode HDMI 1.4 Protocol decode Tektronix针对每一种高速总线提供完整的解决方案 • 发射机信号质量和参考时钟测试 – 4通道实时示波器 – 高带宽SMA差分探头 – 抖动和眼图分析工具 Tx, CEM • 接收机测试 – 任意波形发生器 – 抖动合成工具 20GHz DSA • 互连测试 – 采样示波器 – TDR头部 – TDNA软件 RefClk S参数 Rx • PLL环路带宽 – 实时频谱分析仪 • 数字验证和调试 – 逻辑分析仪 2007 AUG 谢谢大家!

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