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High Performance Memory Testing:Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

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标签: 存储器测试

存储器测试

High  Performance  Memory  Testing:Design  Principles,  Fault  Modeling  and  Self-Test

作者:R.  Dean  Adams

Dealing  primarily  with  embedded  memory,  Adams  (of  IBM\'s  Design-For-  Test  department)  explains  the  design  considerations  of  built-in  memory  self-test  on  computer  chips  that  evaluates  the  correctness  of  memory  outputs  and  the  determination  of  defect  rates.  His  discussion  is  based  on  the  assumption  that  proper  self  test  of  memories  involves  the  understanding  of  memory  design  equally  as  much  as  the  understanding  of  memory  test. 

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