pdf

CMOS 集成电路的电热耦合效应及其模拟研究

  • 1星
  • 日期: 2020-12-14
  • 大小: 244.49KB
  • 所需积分:1分
  • 下载次数:0
  • favicon收藏
  • rep举报
  • 分享
  • free评论
标签: CMOS集成电路

CMOS集成电路

自热效应

CMOS集成电路

电热耦合效应

CMOS集成电路

文章基于集成电路具体的封装结构提出了它的热学分析模型。针对均匀温度分布的集成电路,  采用解耦法实现了电热耦合模拟软件Etsim,  并研究分析了温度对集成电路性能和功耗的影响。

更多简介内容

推荐帖子

评论

登录/注册

意见反馈

求资源

回顶部

About Us 关于我们 客户服务 联系方式 器件索引 网站地图 最新更新 手机版 版权声明

北京市海淀区知春路23号集成电路设计园量子银座1305 电话:(010)82350740 邮编:100191

电子工程世界版权所有 京ICP证060456号 京ICP备10001474号-1 电信业务审批[2006]字第258号函 京公网安备 11010802033920号 Copyright © 2005-2021 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved
$(function(){ var appid = $(".select li a").data("channel"); $(".select li a").click(function(){ var appid = $(this).data("channel"); $('.select dt').html($(this).html()); $('#channel').val(appid); }) })