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Microwave Electronics:Measurement and Materials Characterization

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标签: 微波电子

微波电子

《Microwave  Electronics:Measurement  and  Materials  Characterization》

作者:L.  F.  Chen,C.  K.  Ong,C.  P.  Neo,V.  V.  Varadan,V.  K.  Varadan 

年份:2004

The  development  of  high  speed,  high  frequency  circuits  and  systems  requires  an  understanding  of  the  properties  of  materials  functioning  at  the  microwave  level.  This  comprehensive  reference  sets  out  to  address  this  requirement  by  providing  guidance  on  the  development  of  suitable  measurement  methodologies  tailored  for  a  variety  of  materials  and  application  systems. 

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