Dynamic Element Matching Techniques for Static and Dynamic Errors in Continu...

《Dynamic  Element  Matching  Techniques  for  Static  and  Dynamic  Errors  in  Continuous-Time  Multi-Bit  ΔΣ  Modulators》

This  paper  presents  techniques  to  address  static  and  dynamic  errors  in  high  performance  continuous-time  (CT),  ΔΣ  modulators.  The  inter-symbol  interference  (ISI)  model  is  presented  and  existing  ISI  reduction  techniques  are  reviewed.  A  novel  technique  has  been  presented  which  can  high-pass  shape  both  static  mismatch  and  ISI  error  of  each  element  of  a  multi-bit  DAC  while  decorrelating  the  instantaneous  number  of  transitions  from  the  input  signal.  The  proposed  technique  can  easily  be  extended  to  higher  order  shaping  for  both  static  mismatch  and  ISI  errors.  Simulation  results  show  that  the  proposed  technique  can  improve  DAC  linearity  significantly  in  presence  of  both  static  mismatch  and  ISI  error.

评论

加载更多