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代表扫描一种低功耗可测试性设计结构

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标签：低功耗

代表扫描一种低功耗可测试性设计结构

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本文提出了一种名为"代表扫描"的新型低功耗可测试性设计结构，旨在解决传统扫描链在集成电路测试中因测试数据移位路径长而导致的高功耗问题。该结构通过将传统扫描链中的触发器改造为环形移位寄存器，并为每个环形寄存器选择一个代表触发器，再将这些代表触发器串联起来，形成具有局部循环的代表扫描结构。这种设计大幅减少了参与数据移位的触发器数量，从而显著降低了移位功耗。实验结果表明，在ISCAS89基准电路上，代表扫描结构的移位功耗仅为传统直链扫描结构的4.68%至13.59%，且电路规模越大，功耗减少越显著。对于S35932电路，当环形移位寄存器大小为42时，其移位功耗仅为传统结构的4.68%。代表扫描结构的硬件代价较小，仅需在每个触发器上增加一个选择器，控制灵活，是一种有效的低功耗、低端口可测试性设计结构。尽管代表扫描结构增加了测试时间，但作者提出下一步工作将通过设置不同的数据路径来减小测试时间，进一步提高该结构的实用性。

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