以复用为基础，通过测试访问机制（TAM, Test Access Mechanism）实现对深嵌在SOC（System On Chip）内部的IP 核（Intellectual Property, 知识产权模块）的测试，是解决SOC 测试的根本方法。本文将介绍现有的几类典型的测试访问机制：（1）直接测试访问，（2）基于总线的测试访问机制，（3）基于透明模型的访问机制等。分析它们的特点，探讨面临的主要问题。关键词：SOC IP 核测试访问机制复用由来源不同、规模不同和描述不同的 IP 模块构成的SOC 的测试面临着重大挑战[1]，目前测试成本已经占整个制造成本的50%。IEEE 于1997 年成立了IEEE P1500 工作组，着手制定与SOC 测试相关的标准[2]。该标准定义了测试复用的体系结构，强调在一定TAM 下复用IP 模块测试是解决SoC 测试问题的根本。本文介绍了自SOC 兴起以来的几种重要和典型的测试访问机制（TAM），分析比较了它们各自的特点，并讨论日后有待解决的主要问题。
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