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71M651x Reliability and Aging Data

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标签: 71M651x

71M651x

Reliability  and  Aging  Data  This  Application  Note  provides  data  on  reliability  and  aging  for  the  71M651X  family  of  energy  metering  chips.    Reliability  Below  is  an  excerpt  of  a  reliability  calculation  based  on  a  burn-in  experiment  over  a  sample  size  of  440.  The  resulting  MTBF  is  34,069,741  hours,  or  3,889  years.

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