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测试接口原理与电源芯片应用案例

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标签: 测试接口原理与电源芯片应用案例

测试接口原理与电源芯片应用案例

基于对IC  测试接口原理和系统结构的阐释,具体针对型号为SL431L  的电源芯片,提出改进测试电路的方法,电压测试值的波动范围小于3mV。关键词:测试系统结构,测试接口,芯片测试Abstract:  Based  on  the  principals  of  IC  test  interface  and  the  structures  of  test  systerm,  methods  of  improving  test  circuits  on  type  SL431L  power  IC  is  proposed.  The  change  rang  of  measurement  results  be  within  3mV.Key  words:  test  system  structure,  test  interface,  IC  test

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