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两个关于ESD的PDF文件

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低压触发可控硅结构在静电保护电路中的应用第 32 卷第 6 期2002 年 12 月微电子学M icroelectron icsV o l132, № 6 D ec12002文章编号: 100423365 ( 2002) 0620449204低压触发可控硅结构在静电保护电路中的应用曾　莹, 李瑞伟( 清华大学　微电子学研究所, 北京　100084)　摘　要: 　对 LV T SCR (L ow V o ltage T riggered Silicon Con t ro lled R ect ifier) 结构在深亚微米集成电路中的抗静电特性进行了研究。实验结果表明, LV T SCR 结构的参数, 如 NM O S 管沟道长度、 P2 N 扩散区间距和栅极连接方式等, 都对 LV T SCR 结构的静电保护性能有影响。利用优化的 LV T SCR 结构, 获得了 6000 V 以上的 ESD 失效电压。关键词: 　静电保护; 低压触发可控硅; 深亚微米 IC; CM O S 工艺中图分类号: 　TN 432 文献标识码: 　A 　Appl ica tion of L ow- Voltage Tr iggered S il icon Con trolled Rectif ier in ESD Protection C ircu itsZEN G Y ing, L I R u i2 w ei( T he Institu te of M icroelectron ics, T sing hua U n iversity , B eij ing 100084, P 1 R 1 C h ina )　m icron IC is a very ef2 Abstract: 　T he low vo ltage triggered silicon con tro lled ……

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