IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

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标签： ieee standard test access and

详细说明：IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Abstract: Circuitry that may be built into an integrated circuit to assist in the test, maintenance, and

support of assembled printed circuit boards is defined. The circuitry includes a standard interface

through which instructions and test data are communicated. A set of test features is defined,

including a boundary-scan register, such that the component is able to respond to a minimum set

of instructions designed to assist with testing of assembled printed circuit boards. Also, a language

is defined that allows rigorous description of the component-specific aspects of such testability

features.

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