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IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

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标签: ieee

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详细说明:IEEE  Standard  Test  Access  Port  and  Boundary-Scan  Architecture  Abstract:  Circuitry  that  may  be  built  into  an  integrated  circuit  to  assist  in  the  test,  maintenance,  and

support  of  assembled  printed  circuit  boards  is  defined.  The  circuitry  includes  a  standard  interface

through  which  instructions  and  test  data  are  communicated.  A  set  of  test  features  is  defined,

including  a  boundary-scan  register,  such  that  the  component  is  able  to  respond  to  a  minimum  set

of  instructions  designed  to  assist  with  testing  of  assembled  printed  circuit  boards.  Also,  a  language

is  defined  that  allows  rigorous  description  of  the  component-specific  aspects  of  such  testability

features.

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