40G DWDM器件的测量40G DWDM 器件的测量作者：Thomas Jensen、Oliver Funke、Ulrich Wagemann 译者：邢文胜随着 DWDM 技术提供了巨大的传输容量，光网络技术正在大步前进。今天，DWDM 已成为数据传输的高效手段。光器 件的测试也遇到越来越大的挑战。高速率和窄信道都要求测量新参数，如偏振相关损耗或色散。这迫使制造商在设计和制造 过程中越来越接近物理极限。而且，光器件的巨大需求也要求他们优化生产策略。因此就需要有适当的测试方法简化测试装 置、削减测试时间。 无论 DWDM 采取何种方式提高带宽，无源器件始终处于系统的核心部分。在通向更高带宽的路上，仅仅测量光器件的 损耗已经不够了，精确描述和控制所有器件的色散已经是必要的了。全参数测试的需要对今天的测试方法提出了新的挑战。 本文将介绍一种测试损耗、偏振相关损耗、群时延和微分群时延的新方法。全参数测试 随着网络向更高速率和更窄信道发展，除了信号的损耗，信号运行中的特性也变得重要了。这意味着：对于整个系统， 可以接受 1 个比特周期（40Gbps 时为 25ps）十分之一的时延。但是由于一个系统包含很多部件，所以每个部件的时延必 须更小。 大多数无源器件的功能是为光线选路或分流光线的一部分。不能只考虑损耗性能，而不考虑色散特性。在高级网络中， 器件的四个参数插入损耗、 偏振相关损耗、 群时延和微分群时延中的任何一个达不到要求都可能导致整个系统受损甚至中断。 因此在开发和制造无源光器件特别是 10G 和 40G 高速、窄信道器件时，必须具备测量全部参数的能力。 损耗和时延（色散）的测量传统上是两种不同的工作，用不同的方案完成，或者用针对单一参数优化的方案完成。显然， 测试仪器需要改进以满足测量全部参数的需求。测试测量仪器必须对所有参数一视同仁，都能精确地描述它们。 除此之外，为了缩短测量时间和削减测……
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