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基于PC的LED外延片无损检测扫描系统

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标签: 基于PC的LED外延片无损检测扫描系统

基于PC的LED外延片无损检测扫描系统

介绍了对新型发光二极管外延片光致发光系统的改进,以VC.net  为语言工具编制软件,对发光二极管外延片关键性能参数的测量结果进行分析。增加了薄膜厚度测量的性能,完善了测量系统的功能。基于PC  的检测系统智能化、自动化,实现了对LED  外延片的无损、快速、准确的在线扫描测量。关键词:外延片检测;光致发光;白光干涉法PC-based  LED  Epi-wafers  NDT  scanning  system  Dong  Zhanmin  Li  Shaolin  Sun  Hongsan  (Department  of  Physics,  Tsinghua  University,  Beijing  100084,  China)  Abstract:  A  new  smart  LED  epi-wafers  nondestructive  scanning  system  that  based  on  PC  was  introduced.  Using  software  to  analyze,  the  measurement  results  of  epi-wafers’  key  performance  parameters  could  be  got  immediately.  The  function  of  film  thickness  measurement  was  added  to  the  system.  This  PC-based  intelligent  system  could  realize  LED  wafer  nondestructive,  rapid  and  accurate  on-line  scanning.Key  words:  Epi-wafers  test;  Photoluminescence;  White  light  interference

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