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双极运算放大器的辐射效应和退火特性

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标签: 运算放大器

运算放大器

辐射效应

辐射效应

OP207

辐射效应

 本文介绍了O  P207  双极运算放大器的60CoC射线、不同能量电子和质子的辐照试验以及60CoC和电子辐射损伤在室温和100℃高温条件下的退火效应,  揭示了双极运算放大器电参数对不同射线的辐照响应规律;  研究了不同辐射源对双极运算放大器的不同辐射损伤机理;  并对质子辐照损伤程度与能量的依赖关系以及质子辐照损伤同60CoC和电子辐照损伤的差异进了探讨.  结果表明,  界面态的产生是60CoC和电子辐照损伤的主要原因,  而位移效应造成的体损伤在质子辐照效应中占有重要地位.  

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