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Hynix H27QCG8D2FDA Datesheet

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标签: Hynix

Hynix

H27QCG8D2FDA

Hynix

Datesheet

Datesheet

Hynix  H27QCG8D2FDA  Datesheet

文档内容节选

64Gb NAND Flash Pad information SK Hynix Confidential Rev04Dec 2014 1 SK Hynix Confidential Datasheet H27QCG8D2FDABCC Document Title 64Gbit NAND Flash  Revision History Revision No History Draft Date Remark 00 01 02 03 04  Release Modified Part number Information on page 9 Inserted ReadID on page 10 Inserted VREF pin  Add bonding information of 1CE DDP Jun 2014 Jul 2014 Aug 2014 Dec 2014 Dec 2014 Rev04Dec 2014 2 SK Hynix Confidential Datasheet H27QCG8D2FDABCC Key features Multilevel Cel......

64Gb NAND Flash
Pad information
SK Hynix Confidential
Rev_0.4/Dec. 2014
1
SK Hynix Confidential Datasheet
H27QCG8D2FDA-BCC
Document Title
64Gbit NAND Flash 
Revision History
Revision No.
0.0
0.1
0.2
0.3
0.4
‐ Release
History
Draft Date
Jun. 2014
Jul. 2014
Aug. 2014
Dec. 2014
Dec. 2014
Remark
‐Modified Part number Information on page 9
‐Inserted ReadID on page 10
‐Inserted VREF pin
‐ Add bonding information of 1CE DDP
Rev_0.4/Dec. 2014
2
SK Hynix Confidential Datasheet
H27QCG8D2FDA-BCC
Key features
Multilevel Cell technology
■ NAND INTERFACE 
    ‐ Toggle DDR  Command Interface
    ‐ x8 bus width
    ‐ Multiplexed Command, Address and data signal port  
 
■ Supply Voltage 
   Vcc : 2.7V ~ 3.6V, VccQ : 1.7V ~ 1.95V
   ‐ P/N: H27QCG8D2FDA‐BCC (200Mbps)
■ Organization
    ‐ (16,384+1,664)bytes x 256pages x (1,024+32)blocks x 
2plane
    ‐ Device size : 2,048+64 Blocks
    ‐ Page size : 16,384+1,664bytes
    ‐ Block size : 256pages x (4M+416K) bytes
    ‐ Plane size : (1,024blocks + 32 Extra block)
 
Page Read / Program Time
    ‐ Random Read Time(tR) : 50 us (Typ.)
    ‐ Page Program Time : 1.5 ms (Typ.)
 
Block Erase 
    ‐ Block Erase Time : 5 ms (Typ.)
 
 ■
 
DQ performance
    ‐ Read cycle time : 
           tRC = 10ns
 
Single Die Operating Current 
    ‐ Page Read  : 50 mA max.
    ‐ Page Program : 50 mA max.
    ‐ DQ Burst Read : TBD mA max.
    ‐ DQ Burst Program: TBD mA max.
    ‐ BUS Idle : TBD mA max.
    ‐ Standby : TBD uA max.
 ■ Package 
    ‐ Wafer
 
Rev_0.4/Dec. 2014
3
SK Hynix Confidential Datasheet
H27QCG8D2FDA-BCC
1. SUMMARY DESCRIPTION
The SKHynix H27QCG8D2FDA‐BCC is suited for high performance applications which use the batteries such as high‐end mobile 
solution and PCs data storage solution. The H27QCG8D2FDA‐BCC has a toggle DDR interface.  
Operates from a bidirectional DQS : SKHynix NAND Flash technology provides high‐performance NAND Flash memory with an 
interface that supports up to 200Mb/s(25MB/s) data read and write throughput.  
The high‐speed bandwidth of SKHynix NAND Flash is supported to better support the ongoing shift toward advanced interfaces, 
as more mobile and PCs electronics devices requiring added performance and higher densities adopt interfaces such as embed‐
ded NAND solution series and Serial SSD solution series.
1.1. Product List
Table 1‐1. Package product list
200Mbps (max)
P/N
H27QCG8D2FDA‐BCC
Density
8GB (64Gb)
Vcc/VccQ 
3.3V / 1.8V
I/O Speed
200Mb/s
# of CE RB#
1CE & 1R/B, single
PACKAGE
Wafer
Rev_0.4/Dec. 2014
4
SK Hynix Confidential Datasheet
H27QCG8D2FDA-BCC
1.2. Block Diagram
Figure 1‐1. NAND Flash Die Functional Block Diagram
Vcc
Vss
Program Erase
Controller
HV Gerneration
X
D
e
c
o
d
e
r
SKHynix NAND FLASH
ARRAY
A16-A36
X-Decoder
Address register
A0-A15
Y-Decoder
Address register
Data Register & Sense Amp
Column Decoder
Input/Output Buffers &
latches
VccQ
ALE
CLE
CE#
RE#
WE#
WP#
Command
Interface LOGIC
Global data
buffer
Command register
Output Driver
VssQ
DQ[7:0]
DQS
R/B#
1.3. Addressing
Table 1‐2. Array organization
Bus Cycle
1
st
 Cycle
2
nd
 Cycle
I/O0
A0
A8
A15
A23
A31
I/O1
A1
A9
A16
A24
A32
I/O2
A2
A10
A17
A25
A33
I/O3
A3
A11
A18
A26
A34
I/O4
A4
A12
A19
A27
A35
(2)
I/O5
A5
A13
A20
A28
A36
(2)
I/O6
A6
A14
A21
A29
L
(1)
I/O7
A7
L
(1)
A22
A30
L
(1)
Row
Address information
Column
Page
Plane
Block
A[14:0]
A[22:15]
A[23]
A[34:24]
3
rd
 Cycle
4
th
 Cycle
5
th
 Cycle
Notes:
1. L must be set to Low.
2. A35 and A36 are invalid.
Rev_0.4/Dec. 2014
5
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