相位噪声及其测试技术相位噪声及其测试技术Phase Noise and It's measurement techniques | ||电子科技大学 陈国龙 ||摘 要：本文简要阐述了相位噪声的概念及其表征，并对相位噪声和相位噪声测试方法进行了分析， ||并在此基础上提出了一种新的相位噪声测试方法——基于带通采样的中频频谱分析法。 ||关键词：相位噪声；鉴相法；鉴频法；相噪测试；中频频谱分析法 ||一、引言 ||--- ||现代电子系统和设备都离不开相位噪声测试的要求，因为本振相位噪声影响着调频、调相系统的最终||信噪比，恶化某些调幅检波器的性能；限制频移键控（FSK）和相移键控（PSK）的最小误码率；影响||频分多址接收系统的最大噪声功率等。在很多高级电子系统和设备中，核心技术中往往有一个低相位||噪声频率源。可见对相位噪声进行表征、测试以及如何减小相位噪声是现代电子系统中一个回避不了||的问题。本文较详细的阐述了相位噪声的概念及其表征，并在分析其通用的测试技术的同时提出了一||种新的测试方法——基于带通采样的中频频谱分析法。 ||二、相位……
猜您喜欢
推荐内容
开源项目推荐 更多
热门活动
热门器件
用户搜过
随便看看
热门下载
热门文章
京公网安备 11010802033920号
Copyright © 2005-2024 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved
评论