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CMOS工艺中GG2NMOS结构ESD保护电路设计

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标签: 保护电路

保护电路

CMOS工艺中GG2NMOS结构ESD保护电路设计:采用GG2NMOS  结构的ESD  保护电路的工作原理和对其进行的ESD  实验,提出了一种保护电路的栅耦合技术方案,并达到了预期效果.  通过实验可以看出其性能达到了人体放电模式的2  级标准.  在模拟的基础上可确定损伤的机理和位置,从而给出了由ESD  导致的栅氧化层损伤的微观机制.关键词:  ESD  ;  GG2NMOS  ;  人体放电模式;  栅耦合

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