LED的寿½试验方法
中电科技集团第十三研究所
张万生 赵敏
½家半导½器件质量监督检验中心
徐立生
2010-01-28
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目½
1.前言
2.适用范围
3.定义
4.样品及试验应力
5.失效判据
6.参数测试失效时间和失效数的确定
7.数据处理方法
8.试验案例
9.加速模型检验
10.讨论
11.结语
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前
言
平均寿½是电子元器件最常用的可靠性参数，发光二极管的平均寿½一般以光通量（光
功率)的衰减值½为单一失效判据来获取试验数据，这时采用本标准给出的一种可缩短试
验时间获取试验数据的方法和比较简易的数据处理程序（简称退化系数外推解析法）。½
½光LED需要考虑色温漂移时，以色温漂移为单一判据的½光LED或同时考虑色温漂移和
光通量衰减具有2个失效判据的½光LED，则采用常规的定数截尾法获取试验数据，并采
用已有的½家标准：寿½试验和加速寿½的简单线性无偏估计法（GB
2689.3－81）、寿
½试验和加速寿½的最½线性无偏估计法（GB
2689.4－81）来进行数据处理，然而这
种情况则需要较长的试验时间，而且数据处理的方法也比较复杂。
因此我们在制定“LED寿½试验方法”的标准分为2个阶段：
（1）以光通量（光功率)的衰减值½为单一失效判据来获取试验数据，采用退化系数外推
解析法处理试验数据（也可采用GB
2689.3－81
）。这一部分适用于单色光和不考虑色
温漂移的½光LED已较成熟，现已可½成标准申报实用。
（2）½½光LED需要考虑色温漂移时，其失效判据及数据处理方法我们正处于 研究之中。
待成熟时，将采用线性无偏估计的方法单独½成另一标准。
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LED寿½试验方法
1
适用范围
本标准规定了求取LED（以下简称产品）平均寿½的恒定应力加速寿½试验的数据获
取和数据处理方法。它适用于各种单色光LED光输出和不考虑色温变化½光LED 的慢
退化模式。
2
引用文件
GB 2689.1－81
恒定应力寿½试验和加速寿½试验方法总则
GB 2689.2－81
寿½试验和加速寿½试验的图估计法（用于威布尔分布）
GB 2689.3－81
寿½试验和加速寿½试验的简单线性无偏估计法（用于威布尔分布）
GB 2689.4－81
寿½试验和加速寿½试验的最½线性无偏估计法（用于威布尔分布）
GB/T 4589.1
－2006 分立器件和集成电路总规范
SJ/T 2355-2006
半导½发光器件测试方法
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定 义
3
定义
3.1 LED产品寿½
LED产品寿½是在规定的工½电流和环境温度下，光输出下降到规
定数值的工½时间，它是一个随机变量，在掌握了一批产品的统
计规律后，可以得到其中某一个产品寿½小于某一数值的概率。
3.2平均寿½
平均寿½是LED产品寿½的平均值，对于不可维修的LED产品，通
常用“失效前的平均工½时间”（MTTF）来表示，其意义是LED
产品失效前的工½时间的平均值(数学期望值)。
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