热搜关键词: 电路基础ADC数字信号处理封装库PLC

pdf

基于DES理论的数模混合电路可测试性研究

  • 1星
  • 2013-09-19
  • 116.06KB
  • 需要1积分
  • 0次下载
标签: 基于DES理论的数模混合电路可测试性研究

基于DES理论的数模混合电路可测试性研究

近年来出现的离散事件系统(DES)理论为数模混合电路的测试提供了一种新的解决思路,本文对DES  理论在求取数模混合电路的可测试性和最小测试集中的应用进行了论述。该种方法可以在计算机上用C++语言实现。关键词:数模混合电路,离散事件系统,可测试性,最小测试集,故障覆盖率。The  research  of  the  testability  of  Mixed-signal  circuits  based  on  the  DES  theoryZHANG  Qibo,  LU  Changhua,  JIANG  Weiwei  (Hefei  University  of  Technology,  Hefei  230009)  Abstract:The  discrete  event  system  theory  that  is  developed  in  the  recent  years  gave  a  new  method  for  the  mixed-signal  circuits  testing.  This  paper  illustrates  the  application  of  the  DES  in  the  getting  of  testability  and  the  minimum  test  set  of  the  mixed-signal  circuits.  This  method  can  be  realized  on  computer  by  the  C++.Keywords:  the  Mixed-signal  circuits  ,the  Discrete  event  system  theory  ,the  Testability  ,the  Minimum  test  set  ,the  Fault  efficiency.

展开预览

猜您喜欢

评论

登录/注册

意见反馈

求资源

回顶部

推荐内容

热门活动

热门器件

随便看看

 
EEWorld订阅号

 
EEWorld服务号

 
汽车开发圈

电子工程世界版权所有 京B2-20211791 京ICP备10001474号-1 电信业务审批[2006]字第258号函 京公网安备 11010802033920号 Copyright © 2005-2024 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved
×