Testing and specifying FAST logic

FASTE  is  a  second  generation  Schottky  logic  family  that  utilizesadvanced  oxide-isolation  techniques  to  increase  the  speed  anddecrease  the  power  dissipation  beyond  the  levels  achievable  withconventional  junction  isolated  families.  The  improved  performanceof  the  family  is  exhibited  in  two  ways  —  first,  the  speed  and  powercharacteristics  of  the  devices  are  improved,  and  second,  theconditions  under  which  speed  and  power  are  specified  are  muchtighter.  For  instance,  LS  and  S  TTL  families  offer  AC  limits  only  at  anominal  +5.00V  VCC  supply  voltage  and  at  room  temperature,  25°C.By  contrast,  FAST  guarantees  improved  AC  performance  andspecifies  that  performance  over  a  supply  variation  of  +5.00V  ±10%and  at  temperatures  from  0°C  to  70°C.  Thus  the  designer  no  longerneeds  to  derate  his  propagation  delays  from  the  data  sheet  limits  tocompensate  for  speed  degradation  over  the  temperature  range.With  every  advance  of  this  magnitude,  there  arise  newconsiderations  that  must  be  kept  in  mind  both  by  the  systemdesigner  and  the  user  setting  up  test  procedures.  FAST  is  noexception,  and  it  is  these  considerations  that  will  be  addressed  inthis  application  note.  This  paper  represents  an  attempt  to  describethe  way  the  FAST  logic  parts  are  specified,  why  they  are  specified  inthe  way  they  are,  and  how  the  parts  may  be  tested  in  thequalification  lab  and  at  incoming  inspection  to  verify  theirperformance.