我公司生产的 USBkey 产品所使用的MCU 电路,自2007 年9 月初USBkey 产品开始量产化后,我们对其部分产品做了电老化试验,发现该款电路早期失效问题达不到我们要求,上电以后一段时间内失效率为千分之一点五左右。为此,我们从去年10 月到今年2 月对所生产的产品(已发出的除外)全部进行了电老化筛选,通过这项工作发现了一些规律性的东西,对提高电子产品的安全可靠性有一定指导意义。2 试验条件的设定造成电路早期失效的原因很多,从 IC 设计到半导体生产工艺、电路封装、焊接装配等生产工序和生产设备、生产材料、生产环境及人为的因素都有可能是成因,作为电路的使用方不可能都顾及到,也不可控。通过分析,我们认为还是着眼于该款电路在完成半导体生产工艺后,在后部加工中所产生的早期失效问题更有针对性。,因此决定从电路的后部加工工序即封装、COS 软件以及产品SMT 加工工艺等方面入手,安排几种比对试验并取得试验数据,以期找出失效原因。
猜您喜欢
评论