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半导体芯片电路线宽显微测量精度分析

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标签: 半导体芯片电路线宽显微测量精度分析

半导体芯片电路线宽显微测量精度分析

                  在显微图像的尺寸测量中,由于各种因素的影响,测量结果不可避免地存在着误差。为了充分认识并进而减小这些误差,提高测量精度,文章对标准件标定、显微光学系统的景深、对焦、光照亮度以及温度等影响测量结果的误差源作了细致的研究,给出了半导体芯片电路线宽显微测量结果及精度分析。关键词:半导体芯片,显微测量,精度分析

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