文档解析
在这篇技术文章中，作者分享了关于单级PFC电源浪涌设计的经验与见解。文章首先介绍了什么是浪涌，以及浪涌测试的标准和方法，包括EC61000-4-5和GB/T17626.5标准。接着，文章深入分析了单级PFC电源在面对浪涌时可能出现的失效模式，包括由电流应力或电压应力超过额定值导致的MOSFET失效。作者通过具体的波形图和数据，展示了在浪涌测试中，如何通过观察MOSFET的VGS、VDS和ID等参数来评估其性能。此外，文章还讨论了测试设备之间的差异，以及如何通过增加容差来提高测试的可靠性。最后，作者提出了提高电源防浪涌等级的方法，并鼓励读者提出建议和反馈，以便进一步优化设计。整体而言，这篇文章为电源设计工程师提供了宝贵的参考，特别是在提高电源系统稳定性和可靠性方面。
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