JESD22-A103E
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JEDEC STANDARD High Temperature Storage Life JESD22A103E Revision of JESD22A103D December 2010 OCTOBER 2015 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION NOTICE JEDEC standards and publications contain material that has been prepared reviewed and approved through the JEDEC Board of Directors level and subsequently reviewed and approved by the JEDEC legal counsel JEDEC standards and publications are designed to serve the public interest through ......
文档解析
JEDEC标准22-A103E（2015年10月修订版）是一项针对固态器件高温存储寿命的测试方法。该测试适用于评估、筛选、监控和/或验证所有固态器件，包括非易失性存储器件。测试目的是在存储条件下，通过加速温度来确定热激活故障机制和固态电子器件的失效时间分布。测试中使用加速应力温度而不施加电条件。测试设备需包括可控温室和能进行适当测量的电子设备。测试过程涉及将器件持续存储在不同高温条件（从125°C到300°C）中，并在规定时间后进行电气测试，以检查参数和功能是否符合采购文件中的规定。如果参数超出限制或在标准条件下无法展示功能，则视为高温存储故障。该标准还强调了在选取加速测试条件时需考虑的因素，如金属熔点、封装退化、湿度等级和硅器件的温度限制。标准还提供了改进表格，以收集行业对标准的反馈。
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