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JTAG先进的功能和系统设计,JTAG Advanced Capabilities and System Design

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标签: 先进

先进

功能

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系统设计

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设计

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JTAG先进的功能和系统设计,JTAG  Advanced  Capabilities  and  System  DesignThe  JTAG  bus,  originally  intended  for  board-level  manufacturing  test,has  evolved  into  a  multipurpose  bus  also  used  for  In-System  Programming(ISP)  of  FPGAs,  FLASH,  and  processor  emulation.  Th  is  article’sintent  is  to  provide  a  brief  overview  of  JTAG.  Several  system-level  designoptions  will  be  proposed,  from  the  simplest  board-level  JTAG  chain  througha  complex  embedded  multidrop  system.  Finally,  an  appendix  is  included  thatcontains  some  useful  defi  nitions.Overview:  What  is  JTAG?Th  e  Joint  Test  Action  Group  (JTAG)  is  an  industry  group  formed  in  1985to  develop  a  method  to  test  populated  circuit  boards  after  manufacture.Th  e  group’s  work  resulted  in  the  IEEE  1149.1  standard  entitled  StandardTest  Access  Port  and  Boundary-Scan  Architecture.  Th  e  terms  1149.1,  JTAG,“dot  1”,  and  SCAN  all  refer  to  the  same  thing,  the  IEEE  1149.1  Standard  forBoundary  Scan  Test.What  is  JTAG  and  what  does  it  do?1)  It  is  a  serial  test  bus.2)  It  adds  a  Test  Access  Port  (TAP)  consisting  of  four  pins  to  an  IC(fi  ve  with  optional  RESET)  as  shown  in  Figure  1.–  TDI  (Test  Data  In)–  TDO  (Test  Data  Out)–  TCK  (Test  Clock)–  TMS  (Test  Mode  Select)–  TRST  (Test  Reset)JTAG  provides  access  to  interconnected  digital  cells  on  an  IC:1)  with  a  method  of  access  for  test  and  diagnostics  and  the–  ability  to  do  factory  and  remote  testing  and  diagnostics,–  ability  to  perform  software  debug,  and–  reduce  “No-Fault-Found”  problems2)  with  a  method  for  in-circuit  upgrades  and  the–  ability  to  remotely  perform  system-wide  fi  rmware  upgrades

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