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电感失效分析

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标签: 电感

电感

                        电感RELIABILITY  TEST  CONDITIONSWIRE  WOUND  CHIP  INDUCTORS  TYPEFOR  SMD322522/453232  /  SMTSDR322520/453226  /  SMDCHGR0603/0805/1008/1210  /SMDFSR1008  /  SMTS  |  ||Item  (項目)            |Required                  |Test  Method/Condition  (測試  ||                          |Characteristics        |方法)                                ||                          |(要求)                    |                                      ||High  temperature    |1.No  case  deformation|Temperature:  85±2℃  Time  :    ||Storage  test          |or                          |96±2  hours                        ||                          |change  in  appearance.|Tested  not  less  than  1  hour,||Reference              |2.ΔL/L≦10%                |nor  more  than  2  hours  at      ||documents:            |3.ΔQ/Q≦30%                |room  temperature.                ||MIL-STD-202G  Method|4.ΔDCR/DCR≦10%          |[pic]                            ……                       

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