VLSI测试与可测性设计方法学已甄成熟,诸多理论和方法也为设计和制造界广泛接受,亦成为EDA工具的基本特征。该书系统化编撰迄今为止主流的方法学与结构,为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础,也为电路(包括电路级、芯片级和系统级)的设计、制造、测试和应用之间建立一个相互交流的平台。
该书主要内容包括电路测试基础,验证、模拟和仿真,自动测试生成,专用可测性设计,扫描设计,边界扫描法,随机测试和伪随机测试,内建自测试,电流测试,存储器测试,SoC测试。
该书既可作为高等院校高年级学生和研究生的专业课教材,也可作为从事集成电路设计、制造、测试、应用EDA和ATE专业人员的参考用书。
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