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一种10bit 1MS/s SAR ADC 的设计实现

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标签: 数模转换器

数模转换器

逐次逼近寄存器

逐次逼近寄存器

比较器

比较器

失调误差

失调误差

基于0.13  μm  CMOS  工艺,设计了一种采样率达到1  MS/  s  的10  位逐次逼近模数转换器,其中逐次逼近数字控制逻辑采用全定制的方法,减小了数字单元的面积和功耗;比较器中的预放大器分别采用了二极管连接和开关管复位的方式将各级运放的输出短接,加快比较速度,最后一级锁存器采用改进的两级动态锁存器,进一步提升比较速度的同时降低了失调误差。实验结果表明,1.2  V  电源电压下,所设计的ADC  采样率达到1  MS/  s,输入信号频率为12.  5  kHz  时,测得的输出信号信噪比为54.47  dB,SFDR  为45.18  dB。

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