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IC封装测试工艺流程

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  • 2021-04-05
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标签: IC

IC

IC封装测试工艺流程

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文档解析

这份PPT文档是由上海Imart 360公司提供的,主要介绍了集成电路(IC)的封装工艺。文档从IC设计阶段开始,涵盖了晶圆制造、晶圆测试、IC封装测试以及SMT组装等整个流程。详细介绍了IC封装的不同形式,包括按材料、连接方式和外型进行分类,如金属封装、陶瓷封装、塑料封装,以及SMT和PTH连接方式。特别指出了CSP技术,它通过使用Flip Chip技术和裸片封装,实现了芯片面积与封装面积1:1的比例,代表了目前最高级的封装技术。

文档还深入探讨了封装原材料,如晶圆、引线框架、焊接金线、塑封料和银浆等,并解释了它们在封装过程中的作用。例如,引线框架用于电路连接和芯片固定,而塑封料则提供物理和电气保护。此外,还描述了典型的封装工艺流程,包括前段工艺、电镀、后段工艺和最终测试。详细解释了各个步骤,如晶圆磨片、切割、清洗、芯片粘接、银浆固化、引线焊接等,并对引线焊接的质量控制进行了重点说明。

最后,文档还涉及了后段工艺,包括注塑、激光打字、高温固化、去溢料/电镀、切筋/成型以及最终的视觉检查。整个文档为读者提供了一个全面的IC封装工艺概览,从原材料选择到最终产品测试的每一个环节。

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