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应用于光互连的高速误码仪的设计

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  • 2013-09-22
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标签: 光互连

光互连

高速误码仪

光互连

  出于对光互连芯片进行测试的目的,本文提出了一种基于现场可编程门阵列(Field-Programmable  GateArray,FPGA)的高速误码仪的设计方案,并介绍了该方案的设计思想,着重对同步问题进行了讨论,其中对解决同步问题的comma检测等技术进行了较为详细的介绍

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