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PECVD沉积氮化硅薄膜应用研究

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标签: PECVD沉积氮化硅薄膜应用研究

PECVD沉积氮化硅薄膜应用研究

                采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)  ,在单晶硅衬底上生长氮化硅(SiN)  薄膜,再对薄膜进行快速热退火处理,研究了在不同温度下SiN  薄膜的退火特性.  通过椭圆偏振光仪测量了薄膜厚度和薄膜的折射率,发现退火后薄膜的厚度下降,折射率升高;  采用准稳态光电导衰减QSSPCD  测少数载流子寿命,发现少子寿命有很大程度的下降.  还研究了SiN  薄膜对多晶硅电池性能的影响,发现它能较大幅度地提高电池效率。

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