2013年全国大学生电子设计竞赛简易频率特性测试仪E题优秀论文
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2013 年全国大学生电子设计竞赛 简易频率特性测试仪E 题 本科组 2013 年 9 月 7 日 1 摘 要 摘要：本系统是基于 FPGA 和 STM32作为主系统，由控制两片高速 DAC900，产生两路相正 交的扫频信号1MHZ40MHZ，而 STM32作为整个系统的主控系统通过 STM32控制扫频信号 输出实现闭环稳幅，再通过乘法器 AD835实现扫频信号与被测网络出来信号的混倍频， 再通过 RC 低通滤波，用 STM32内部 AD 采集测出并显示幅频特性与相频特性，显示在彩屏中， 是一款很不错的简易频率特性测试仪很好的实现了题目的要求以及大部分的发挥部分 关键字：扫频信号 FPGA STM32 混频 乘法器 Abstract The system is based on FPGA and STM32 as the main system controlled by the two highspeed DAC900 generates two orthogonal sweep......
文档解析
2013年全国大学生电子设计竞赛的题目是设计一款简易频率特性测试仪。该测试仪基于FPGA和STM32微控制器，通过控制两片高速DAC900产生1MHz至40MHz的两路正交扫频信号。STM32负责闭环稳幅控制和系统主控，实现信号的混频、滤波和采集，最终在彩屏上显示幅频特性与相频特性。系统还包括AD模块、显示模块和电源模块。在方案选择上，优先考虑了基于FPGA的扫频信号源和AD835乘法器的混频电路，以及RC低通滤波器。理论分析包括零中频正交解调原理和信号流向的推导计算。电路与程序设计部分详细描述了系统总体框图、子系统框图和电路原理图，以及程序功能描述和设计思路。测试方案与测试结果验证了系统设计满足题目要求，具有较小的相对误差，信号无明显失真，质量良好。附录提供了部分核心程序代码。
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