LED发光是带电粒子在半导体能隙之间跃迁的结果。能隙的大小决定了发光的波长。LED的发展已经产生了表面和边缘发光技术，改变波长和功率特性等性能指标。
本文介绍了有关构建用于检验单个和多个（阵列）
LED器件的生产测试系统解决方案的方法和问题。
文档内容节选
第2218号 吉时利应用笔记系列 高密度可见光LED的生产测试 引言 可见光二极管LED凭借其长寿命和高可靠性的特 点，正获得越来越广泛的应用LED目前已经用在了汽车 街灯户外标识等方面此外，随着新的颜色和新的关键 应用的开发，采用高性价比的测试方法以确保LED可靠性的 需求不断增大随着高亮度和有机LED技术的出现，对测试 设备的测量性能与产能的要求也越来越高 LED发光是带电粒子在半导体能隙之间跃迁的结果 能隙的大小决定了发光的波长LED的发展已经产生了表面 和边缘发光技术，改变波长和功率特性等性能指标 本文介绍了有关构建用于检验单个和多个阵列 LED器件的生产测试系统解决方案的方法和问题 测试介绍 高性能LED通常要进行5种测试其中包括直流频谱 I VF 测试 V IL 测试 VR 测试 图1 典型的LED直流IV曲线和测试点不用于缩放 上的三种测试正向电压反向击穿和漏电流测试以及 压时，LED中泄漏的小电流测试时加载特定的反向电压， 光谱上的两种测试光照强度和波长检验在生产环境 经过一定的时间后测量流过LED的相应电流测试过程要检 下，通常只有直流测试涉及测试产能的问题光学测试虽......
猜您喜欢
推荐内容
开源项目推荐 更多
热门活动
热门器件
用户搜过
随便看看
热门下载
热门文章
热门标签
京公网安备 11010802033920号
Copyright © 2005-2024 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved
评论