APX9142a8

推荐内容

开源项目推荐 更多

• LTC3642EDD-5 5V、50mA 降压转换器的典型应用电路
• 使用 ROHM Semiconductor 的 BA70BC0WFP-E2 的参考设计
• 使用 Analog Devices 的 LT1584CT-3.45 的参考设计
• MC33696EVB：MC33696 / MC33596评估板
• TWR-MCF51JF-KIT，ColdFire+ MCF51JF 和 MCF51JU 系列 32 位 MCU 的开发塔式系统模块，用于消费和工业应用
• MAX1720 负输出电压三倍器的典型应用
• EVAL-AD7091R-5SDZ，用于评估 AD7091R-5 12 位 ADC 监控系统的评估板
• 交流版12V 6J1前级
• [6电+2光]8口百兆交换机RTL8309N
• LT1085CT-12、12V/7.5A 低压差负电源的典型应用电路

热门活动

用户搜过

• c语言程序设计word
• The CMOS Gain Boosting Technique,Analog Integrated Circuit
• unix程序员手册
• ansoft designer8.0下载
• PowerPCB 下载
• labview stm32开发
• 艾伦coms集成电路设计课后题答案
• IAR7.4注册机
• stcisp驱动程序下载
• START DTU

随便看看

• 请问一个模拟电路问题
  请问在基本共射放大电路里面U0=-Ic（Rc//Rl）这个式子如何来的？Rc，Rl中应该没有电流通过啊？谢谢
• I2CSB问题....有图有真相.....
  下载 (56.37 KB)2010-6-6 17:04各种位都设好了 就是不进中断 哪位好心人帮帮俺....困扰好几天了
• 新手求助！关于MSP430G2553控制RC522射频读写卡的程序问题
  如题，我想用MSP430G2553来控制RC522读卡器进行读写卡操作。要实现的功能：2553将输入的电压进行AD转换（单通道多次采样，定时器中断，P1.3口查询到按键按下时开启AD转换），得到的值会自动存储于ADC10MEM中，我将ADC10MEM赋值给数组data1，然后读写卡程序中通过指针指向data1把数据写入卡中，然后通过读卡程序又将该数据读出，已确定工作正常。我的设计思路是把整个程序分
• 围观MSP430+Cortex-M4的MSP432培训教程，低功耗与高效数据处理完美结合
  [b] [size=4]德州仪器MSP430的低功耗是业内最牛的，ARM Cortex-M4核高效的信号处理功能备受业内喜爱，两者加起来是什么效果呢？[/size][/b][size=4] [b]MSP432P4x微控制器完美地组合了TI的MSP430低功耗DNA、先进的混合信号功能以及ARM 32位 Cortex-M4F RISC引擎的高性能处理功能。MSP432P4x MCU适用于高效数据处理
• 一个IIC的5V和3.3V电平转换的经典电路分享
  在电平转换器的操作中要考虑下面的三种状态：没有器件下拉总线线路。低电压部分的总线线路通过上拉电阻Rp 上拉至3.3V。 MOS-FET 管的门极和源极都是3.3V，所以它的VGS 低于阀值电压，MOS-FET 管不导通。这就允许高电压部分的总线线路通过它的上拉电阻Rp拉到5V。此时两部分的总线线路都是高电平，只是电压电平不同。一个3.3V 器件下拉总线线路到低电平。MOS-FET 管的源极也变成低
• 提交易电源周计划-Winterschs
• 收集到的LED点阵控制Proteus仿真实例
• 学TI MSP430F5529，晒成绩，抢超值大礼！
• 参会赢iPad2！Silicon Labs & EDOM新品巡演及应用技术研讨会，等你来！
• Windows CE在指纹传感器设备驱动程序开发中的应用.pdf

热门下载

• 单片机在汽车仪表中的应用
• AX3120 2.5A Synchronous buck Converter
• 无线网卡的原理
• 该包是根据DE405提供的国际天球矩形参考框架的基本位置和速度方面的资料
• 连接串口通讯程序
• 使用M8做的USB接口转换
• 电气控制系统应用单片机控制的研究_庞玉.pdf
• 实时嵌入式操作系统在单片机中的应用
• YT-1200C配料控制器的设计
• LY-51S 开发板光盘资料

热门文章

• 自动驾驶世界的汽车后市场将变成什么样？
• 固态激光雷达供应商，探维科技完成1亿元融资
• OPPO Find X4 Pro设计专利：屏下前摄，后置方形副屏
• 线束测试仪方案—安泰电子客车线束测试
• 深圳华强北电子市场紧急关闭，商户连夜取货
• 电机为什么会产生轴电流？电机过热的原因有哪些？
• 在测试点中增加示波器对测量有何影响？