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电子元器件的故障原因及其对策

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标签: 模拟电路

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数字电路

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IC设计/制造

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电子设备设计师的必备书籍之一

本书作者吉田弘之是一位具有世界影响力的可靠性专家,本书对电子元器件的可靠性工作具有指导意义

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文档解析

《电子元器件的故障原因及其对策:电子设备设计师必读》是一本由吉田弘之所著,杨启善和刘风华等人翻译的专业书籍,于2004年由中国标准出版社出版。该书共251页,主要面向电子设备设计师,深入探讨了电子元器件的故障原因,并提供了相应的解决对策。书中内容涵盖了电子设备可靠性改善的历史、故障的定义、故障原因分析,以及不同电子元件如半导体器件、电容器、电阻器、印刷电路板等的故障问题和对策。此外,书中还介绍了故障分析、良品分析、可靠性试验等方法,以及工厂和制造工程的改善措施,旨在帮助设计师提高电子设备的可靠性,减少故障发生,延长产品寿命。书籍适合电子工程领域的专业人士阅读参考。

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2022-10-12 06:59:37
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