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SD-CLK波形分析

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标签: 波形

波形

SD-CLK波形分析SD-CLK波形分析SD-CLK波形分析SD-CLK波形分析

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本文是一份关于SP8810-1芯片的SD0_CLK0信号波形分析报告,由Liangjin.Chen在2012年8月15日完成。报告主要探讨了不同电阻值对信号波形的影响,包括信号过冲和回沟问题。测试点包括CLOSE-SOCKET和CLOSE-BB,通过在这两个测试点串联不同阻值的电阻(0R、12.1R、22R、33R、52.3R)来观察信号变化。实验结果显示,0R电阻会导致较大的信号过冲,而串联22R和33R电阻可以在保持较好驱动能力的同时,有效减小回沟。此外,报告还分析了电容对信号波形的影响,以及驱动能力和信号反射对波形的具体影响。最后,报告提出了减小回沟和过冲影响的方法,包括增大驱动能力、串联电阻以及并联电容等,旨在优化信号完整性和提高芯片性能。

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