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半导体制造商正在对自动测试设备(ATE)公司提出更高的要求,要求他们能够快速可靠地设计出满足不断增长的 IC 需求的测试系统,并且尽可能少地增加成本。IC 制造商将测试成本(CoT)视为成本增加项,虽然必需时只从产品利润中扣除,却需要不断增加工厂占地面积,而不能加速周期和提高产量。ATE 系统制造商需要开发测试系统来满足新 IC 产品的技术需求,并且不会造成产量损失,随着更新换代也只会占用相同或者
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