Power Integrity for I/O Interfaces: With SI / PI Co-Design

Power  Integrity  for  I/O  Interfaces:  With  SI  /  PI  Co-Design

Product  Description: 

Foreword  by  Joungho  Kim

The  Hands-On  Guide  to  Power  Integrity  in  Advanced  Applications,  from  Three  Industry  Experts

In  this  book,  three  industry  experts  introduce  state-of-the-art  power  integrity  design  techniques  for  today’s  most  advanced  digital  systems,  with  real-life,  system-level  examples.  They  introduce  a  powerful  approach  to  unifying  power  and  signal  integrity  design  that  can  identify  signal  impediments  earlier,  reducing  cost  and  improving  reliability.

After  introducing  high-speed,  single-ended  and  differential  I/O  interfaces,  the  authors  describe  on-chip,  package,  and  PCB  power  distribution  networks  (PDNs)  and  signal  networks,  carefully  reviewing  their  interactions.  Next,  they  walk  through  end-to-end  PDN  and  signal  network  design  in  frequency  domain,  addressing  crucial  parameters  such  as  self  and  transfer  impedance.  They  thoroughly  address  modeling  and  characterization  of  on-chip  components  of  PDNs  and  signal  networks,  evaluation  of  power-to-signal  coupling  coefficients,  analysis  of  Simultaneous  Switching  Output  (SSO)  noise,  and  many  other  topics.

Coverage  includes

•  The  exponentially  growing  challenge  of  I/O  power  integrity  in  high-speed  digital  systems

•  PDN  noise  analysis  and  its  timing  impact  for  single-ended  and  differential  interfaces

•  Concurrent  design  and  co-simulation  techniques  for  evaluating  all  power  integrity  effects  on  signal  integrity

•  Time  domain  gauges  for  designing  and  optimizing  components  and  systems

•  Power/signal  integrity  interaction  mechanisms,  including  power  noise  coupling  onto  signal  trace  and  noise  amplification  through  signal  resonance

•  Performance  impact  due  to  Inter  Symbol  Interference  (ISI),  crosstalk,  and  SSO  noise,  as  well  as  their  interactions

•  Validation  techniques,  including  low  impedance  VNA  measurements,  power  noise  measurements,  and  characterization  of  power-to-signal  coupling  effects

Power  Integrity  for  I/O  Interfaces  will  be  an  indispensable  resource  for  everyone  concerned  with  power  integrity  in  cutting-edge  digital  designs,  including  system  design  and  hardware  engineers,  signal  and  power  integrity  engineers,  graduate  students,  and  researchers.