手机CmosCameraModule测试标准.

                        测试技术标准Q/SIT-WS-01测试技术标准Test  standards测试技术标准1  范围  本标准规定了数码摄像模组产品测试的技术标准。  本标准适用于数码摄像模组产品的测试。  2  规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。  凡是注日期的引用文件，  其随后min所有的  修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用  于本标准。  Q/SMX01-2006  数码摄像模组  Q/SIT  T05～07  检验标准  3  术语和定义数码摄像模组分辨率  表征数码摄像模组对被摄景物细节的分辨能力。可分别用视觉分辨率和空间频率感应灵敏度表达。  3.2  分辩率极限  当空间输入频率等于数码摄像模组采样频率的  1/2  倍时，输入信号将开始出现混叠，此时的空间频  率达到数码摄像模组的分辩率极限，单位：  （Lw/PH）  。  3.3  帧频  帧频是数码摄像模组每秒钟产生完整图像的画面数，单位为“帧/秒”。  3.4  几何失真  数码摄像模组拍摄的画面相对于被拍摄图案（见附录C  几何失真测试图卡）的几何变形，亦称为畸  变。  如果实际像高大于被拍摄图像时为正畸变，亦称枕形畸变，如图1所示。反之，为负畸变，亦称桶  形畸变，如图2所示。其几何失真q按下式计算：  q=(y’-y)/y*100%  其中：y’―正畸变像面最小畸变尺寸，负畸变像面的最大畸变尺寸  y―与  y’对应的被摄图案的尺寸3.1图  1  枕形畸变图  2  桶形畸变13.5坏点  在特定的照明条件下（亮度差＜10%）  ，对数码摄像模组中像素的光电转换能力进行分析：  1）30  万  Pixel  芯片：在暗场条件下定义，坏点为比周围  40*40  个像素区域亮度平均值亮  29DN；在  白场条件下，定义坏点为比周围  40*40  个像素区域平均值暗  15%；  2）130  万……