使用单元感知诊断揭示晶体管级别的良率限制因素

单元感知诊断可通过执行晶体管级别的诊断来识别标准单元内的缺陷，是一种全新而有效的方法。它运用了衍生自模拟仿真的故障模型，同时使用与传统诊断相同的失效数据收集和诊断流程。Tessent®  Diagnosis  提供的单元感知诊断是单元感知测试领域  10  多年来研究成果的结晶，是在与无晶圆厂半导体制造商、晶圆代工厂和集成设备制造商的广泛合作中发展起来的。

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