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系统级芯片开发需要优先解决易测性设计问题
从根本上讲，复杂系统级芯片的测试与验证问题与CMOS技术以前一直推测的物理极限存在冲突。在设计系统级芯片时，设计人员需要处理数百万门线路的设计，但即使解决了复杂的线路设计，设计好的电路仍然需要进行验证和测试，这时候就会出现半导体物理方面的问题，为已十分复杂的系统增添许多不希望看到的物理效应。为此，验证和测试技术人员不得不急切地开发新工具和技术，以克服0.18μm及更微细工艺所带来的新难题
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