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VLSI边界扫描测试故障诊断

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标签: 边界扫描

边界扫描

测试

测试

故障诊断

故障诊断

VLSI

VLSI

  介绍了支持JTAG  标准的IC  芯片结构和故障测试的4-wire  串行总线,以及运用边界扫描故障诊断的原理。实验中分析了IC  故障类型、一般故障诊断流程和进行扫描链本身完整性测试的方案,并提出了一种外加测试码向量生成的算法。该故障诊断策略通过两块xc9572  pc84  芯片互连PCB  板的实现方法进行验证,体现了该策略对于芯片故障定位准确、测试效率高、控制逻辑简便易行的优越性

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