热搜关键词: 电路基础ADC数字信号处理封装库PLC

doc

手机结构测试标准

  • 1星
  • 2013-09-29
  • 21.5KB
  • 需要1积分
  • 1次下载
标签: 手机

手机

结构

结构

测试

测试

标准

标准

                        手机结构测试标准                              手机结构测试标准  1.全参数测试     Full  Parametric  Test  25℃±5℃,  60%±15%RH  (roomambient),功能、外观及参数测试全通过。  2.高温操作测试     High  Temperature  Operation  +55℃,2h,开机状态。  3.低温操作测试     Low  Temperature  Operation  -25℃,2h,开机状态。  4.热冲击测试  Thermal  Shock  Test  冷热冲击是在15秒内,实现–40℃和+85℃的瞬间转换。且在每个温度停留30分钟,重复转换30次。  5  温度循环测试  Temperature  Cycle  Test  25℃±5℃,  60%±15%RH,1h→   +70℃,25%RH,1h→+40℃,90%RH,1h  →  -30℃,  1h→  25℃±5℃,  60%±15%RH;   27  循环,关机状态。  6.静电放电测试     ESD  Test  直接放电电压(±4V),空气放电电压  (  ±8KV)。  7.高温高湿存贮测试     High  Temp.&  Humid.  Storage  裸机,关机,65℃,90%RH,持续48小时。  8.低温存贮测试     Low  Temp.  Storage  裸机,关机,-30℃,持续48小时。  9.卡通箱振动测试  Carton-packed  Vibration  Test  类型/  Type:正弦振动/  Sinusoidal  Sweep;  方向/  Direction:三个轴向/  Three  orthogonal  axes;  加速度/  Acceleration:1m/s2  (5~200  Hz  ),  0.3m/s2  (200~500  Hz  );  持续时……                       

展开预览

猜您喜欢

评论

登录/注册

意见反馈

求资源

回顶部

推荐内容

热门活动

热门器件

随便看看

 
EEWorld订阅号

 
EEWorld服务号

 
汽车开发圈

电子工程世界版权所有 京B2-20211791 京ICP备10001474号-1 电信业务审批[2006]字第258号函 京公网安备 11010802033920号 Copyright © 2005-2024 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved
×