热搜关键词: 数字信号处理RTOSC语言Linux射频电路

pdf

浅谈借助静电测试提高LED品质

  • 1星
  • 2013-12-06
  • 400.84KB
  • 需要2积分
  • 0次下载
标签: 浅谈借助静电测试提高LED品质

浅谈借助静电测试提高LED品质

                随着LED应用环境的多元复杂化,LED下游商对上游晶粒品质的要求日趋严苛,如LED耐静电测试(Electrostatic  Discharge,ESD)的电压值就从原本4kV要求,逐渐提高到8kV,以容忍户外的恶劣环境。所以高压LED耐静电测试为目前LED晶粒点测机中,急待开发的关键模组。

展开预览

猜您喜欢

评论

登录/注册

积分规则

意见反馈

求资源

回顶部

推荐内容

热门活动

热门器件

随便看看

 
EEWorld订阅号

 
EEWorld服务号

 
汽车开发圈

 
机器人开发圈

About Us 关于我们 客户服务 联系方式 器件索引 网站地图 最新更新 手机版 版权声明

北京市海淀区中关村大街18号B座15层1530室 电话:(010)82350740 邮编:100190

电子工程世界版权所有 京B2-20211791 京ICP备10001474号-1 电信业务审批[2006]字第258号函 京公网安备 11010802033920号 Copyright © 2005-2026 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved
×