在大规模芯片设计的领域里，功能验证代表"黑洞"在片子设计中它几乎要占50％到70％精力，通常还需要一个专门的工程师课题组。功能验证的确已变成设计工作的主要"瓶颈"。目前精微加工工艺所能达到的电路密度，对功能验证问题报怨最多，也最频繁。另一方面，这些片子又用于日益变得更大、更复杂的系统。结果验证用的各种测试基准在规模上迅速增长。
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