运算放大器表征的简化测试规定--A Simplified Test Set for Op Amp Characterization

运算放大器表征的简化测试规定The  test  set  described  in  this  paper  allows  complete  quantitativecharacterization  of  all  dc  operational  amplifier  parametersquickly  and  with  a  minimum  of  additional  equipment.The  method  used  is  accurate  and  is  equally  suitable  for  laboratoryor  production  test—for  quantitative  readout  or  for  limittesting.  As  embodied  here,  the  test  set  is  conditioned  fortesting  the  LM709  and  LM101  amplifiers;  however,  simplechanges  discussed  in  the  text  will  allow  testing  of  any  of  thegenerally  available  operational  amplifiers.Amplifier  parameters  are  tested  over  the  full  range  of  commonmode  and  power  supply  voltages  with  either  of  two  outputloads.  Test  set  sensitivity  and  stability  are  adequate  fortesting  all  presently  available  integrated  amplifiers.The  paper  will  be  divided  into  two  sections,  i.e.,  a  functionaldes  cription,  and  a  discussion  of  circuit  operation.  Completeconstruction  information  will  be  given  including  a  layout  forthe  tester  circuit  boards.FUNCTIONAL  DEs  criptIONThe  test  set  operates  in  one  of  three  basic  modes.  Theseare:  (1)  Bias  Current  Test;  (2)  Offset  Voltage,  Offset  CurrentTest;  and  (3)  Transfer  Function  Test.  In  the  first  two  of  thesetests,  the  amplifier  under  test  is  exercised  throughout  its  fullcommon  mode  range.  In  all  three  tests,  power  supply  voltagesfor  the  circuit  under  test  may  be  set  at  ±5V,  ±10V,±15V,  or  ±20V.