如何测试稳压器的负载瞬态响应

  Semiconductor  memory,  card  readers,  microprocessors,disc  drives,  piezoelectric  devices  and  digitally  based  systemsfurnish  transient  loads  that  a  voltage  regulator  mustservice.  Ideally,  regulator  output  is  invariant  during  a  loadtransient.  In  practice,  some  variation  is  encountered  andbecomes  problematic  if  allowable  operating  voltage  tolerancesare  exceeded.  This  mandates  testing  the  regulatorand  its  associated  support  components  to  verify  desiredperformance  under  transient  loading  conditions.  Variousmethods  are  employable  to  generate  transient  loads,  allowingobservation  of  regulator  response